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由于大型計(jì)算機(jī)的出現(xiàn)，1980年代ST IC芯片需要高性能D-RAM時(shí)，日本公司名列前茅。  st意法的IC芯片故障分析介紹，可以按照國(guó)際、國(guó)內(nèi)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)，從底層芯片到實(shí)際產(chǎn)品，從物理到邏輯進(jìn)行全面檢測(cè)。st意法提供芯片預(yù)處理和并行測(cè)試。 通道攻擊、光攻擊、侵入式攻擊、環(huán)境、電壓毛刺攻擊、電磁注入、輻射注入、物理安全、邏輯安全、功能、兼容性、多點(diǎn)激光注入等安全檢測(cè)服務(wù)。